[实用新型]同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置有效
| 申请号： | 201120070411.X | 申请日： | 2011-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN202275041U | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 蔡小舒;苏明旭 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置，特点是，装置是由激光源、样品池、透镜、面阵光敏器件同轴布置构成。激光束照射到样品池中的颗粒，样品池中作布朗运动的颗粒产生动态光散射，这些颗粒的动态光散射信号经过透镜后汇聚，被面阵光敏器件连续记录，产生至少一幅以上时间序列的颗粒运动的连续图像，连续图像上颗粒光散射产生的光点形成了被测颗粒的布朗运动轨迹。本实用新型的有益效果是利用面阵数字相机可同时测量许多颗粒的动态光散射信号，对所有这些颗粒的动态光散射信号进行处理，就可以得到颗粒的粒度分布，大大减少了测量时间，而且可以同时测量粒度从纳米到微米分布范围较宽的颗粒。 | ||
| 搜索关键词： | 同时 测量 颗粒 动态 散射 纳米 粒度 装置 | ||
【主权项】：
一种同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置，其特征在于，该测量装置从左到右由激光源、样品池、透镜、面阵光敏器件同轴布置构成，激光源发出的激光束入射激光照射到样品池中的颗粒，在入射激光照射下样品池中作布朗运动的颗粒产生动态光散射，这些颗粒的动态光散射信号经过透镜后汇聚，被布置在透镜焦面上的面阵光敏器件连续记录，产生至少一幅以上时间序列的颗粒运动的连续图像，所述的连续图像上颗粒光散射产生的光点形成了被测颗粒的布朗运动轨迹。
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