[实用新型]用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路无效
申请号: | 201120115762.8 | 申请日: | 2011-04-19 |
公开(公告)号: | CN202033420U | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
发明(设计)人: | 钟锋浩 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技有限公司 |
主分类号: | G01R23/10 | 分类号: | G01R23/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052 浙江省杭州市滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路,它包括精密DA转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块;所述的精密DA转换模块和输入信号处理模块连接触发模块;所述的触发模块连接高速计数模块;本实用新型与现有技术相比,具有以下明显效果:1、设计合理;2、集成度高;3、参数测量范围宽,由于专用电路中采用了大规模集成电路和高速比较触发器,使参数测试的精度和可测范围大大提高。 | ||
搜索关键词: | 用于 模拟 集成电路 测试 系统 时间 参数 专用 电路 | ||
【主权项】:
一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路,它包括精密DA转换模块(1)、输入信号处理模块(2)、触发模块(3)、高速计数模块(4);所述的精密DA转换模块(1)和输入信号处理模块(2)分别连接触发模块(3);所述的触发模块(3)连接高速计数模块(4)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州长川科技有限公司,未经杭州长川科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120115762.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。