[实用新型]可进行交替测试的电子测试装置有效

专利信息
申请号: 201120117595.0 申请日: 2011-04-20
公开(公告)号: CN202182919U 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 王向亮;王立 申请(专利权)人: 王向亮;王立
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 谭一兵
地址: 523050 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种可进行交替测试的电子测试装置,其包括测试电路模块及两组或两组以上的测试治具,所述测试治具设置有与所述测试电路模块电连接的探针。本实用新型可进行交替测试的电子测试装置通过设置有两组或两组以上的所述测试治具,因而当所述测试电路模块对放置于一组测试治具上的电子产品或电子零部件进行测试时,操作员在所述测试时间内可同时用来将待测的电子产品或电子零部件摆放在其它测试治具上,两个动作并行,从而提高了测试效率,节省了操作时间。
搜索关键词: 进行 交替 测试 电子 装置
【主权项】:
一种可进行交替测试的电子测试装置,其特征在于:包括测试电路模块及两组或两组以上的测试治具(1),所述测试治具(1)设置有与所述测试电路模块电连接的探针(5)。
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