[实用新型]压接式可控硅芯片结构无效

专利信息
申请号: 201120137324.1 申请日: 2011-05-04
公开(公告)号: CN202025761U 公开(公告)日: 2011-11-02
发明(设计)人: 郑锦春;王文学;康春华 申请(专利权)人: 锦州市锦利电器有限公司
主分类号: H01L29/74 分类号: H01L29/74;H01L23/31;H01L29/06
代理公司: 锦州辽西专利事务所 21225 代理人: 李辉
地址: 121000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型公开了一种压接式可控硅芯片结构,包括可控硅芯片、位于可控硅芯片阴极面的垫片、位于可控硅芯片阳极面的下钼片,其特殊之处是:可控硅芯片边缘设有硅胶套,在垫片上放置有上钼片,所述的上钼片、垫片与可控硅芯片阴极面压接在一起,下钼片与可控硅阳极面压接在一起,且垫片、上钼片和下钼片位于硅胶套内,所述的可控硅芯片边缘的形状为双正角,在角内填涂硅橡胶。优点是:将上钼片、下钼片和可控硅芯片压接在一起,可将先施加到上、下钼片上的压力均匀分给可控硅芯片,可控硅芯片不易损坏,提高了成品的合格率;由于可控硅芯片边缘形状为双正角,可增大可控硅芯片的峰值电压,同时阴极面面积不会减少,不增加通态压降VTM,导通损耗小。
搜索关键词: 压接式 可控硅 芯片 结构
【主权项】:
一种压接式可控硅芯片结构,包括可控硅芯片、位于可控硅芯片阴极面的垫片、位于可控硅芯片阳极面的下钼片,其特征是:在可控硅芯片边缘设有硅胶套,在垫片上放置有上钼片,所述的上钼片、垫片与可控硅芯片阴极面压接在一起,所述的下钼片与可控硅阳极面压接在一起,且所述的垫片、上钼片和下钼片位于硅胶套内,所述的可控硅芯片边缘的形状为双正角,在角内填涂硅橡胶。
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