[实用新型]一种去除率模型可控的磁流变均匀抛光装置无效

专利信息
申请号: 201120142304.3 申请日: 2011-05-08
公开(公告)号: CN202097608U 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 贺新升;高春甫;王彬;王冬云;卾世举;朱喜林 申请(专利权)人: 浙江师范大学
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 魏征骥
地址: 浙江省金*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及一种去除率模型可控的磁流变均匀抛光装置,属于光整加工领域。主轴电机由支架固连于z轴工作台上,齿轮通过联轴器与主轴电机相连,齿轮上的同步带与磁极相连,支架通过滚动轴承将磁极固连于z轴工作台上,集电环一端固定在悬梁臂上,悬梁臂与z轴工作台固定连接。优点是结构新颖,是磁流变抛光方法的核心工具,通过逆构磁极获得所需磁场分布,以获得抛光区域内均匀去除率的磁流变抛光技术路线,能够完成抛光作业。
搜索关键词: 一种 去除 模型 可控 流变 均匀 抛光 装置
【主权项】:
一种去除率模型可控的磁流变均匀抛光装置,其特征在于:主轴电机由支架固连于z轴工作台上,齿轮通过联轴器与主轴电机相连,齿轮上的同步带与磁极相连,支架通过滚动轴承将磁极固连于z轴工作台上,集电环一端固定在悬梁臂上,悬梁臂与z轴工作台固定连接。
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