[实用新型]集成电路内部电容测试装置有效
| 申请号： | 201120146887.7 | 申请日： | 2011-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN202057729U | 公开（公告）日： | 2011-11-30 |
| 发明（设计）人： | 蒋鹰;董小东;辜芳义 | 申请（专利权）人： | 嘉盛半导体(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 田野 |
| 地址： | 215021 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种集成电路内部电容测试装置，该集成电路内部电容测试装置包括：印刷电路板，用于供电子部件的设置与连接；连接端口，设置于所述印刷电路板上，用于与外部测试机相连接；电容测试模块，设置在所述印刷电路板上，通过印刷电路板上的布线与所述连接端口相连接；产品测试端口，设置在所述印刷电路板上，与所述电容测试模块相连接，用于连接需要测试的集成电路芯片外引脚。本实用新型从硬件选择及软件程序上进行改良，通过重新设计通信电路及印刷电路板，选择精密度高的测试治具，并在软件程序上进行一定的补偿，使得对变容二极管的电容测试的时间大大缩短，精度提高。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 内部 电容 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路内部电容测试装置，其特征在于，该集成电路内部电容测试装置包括：印刷电路板，用于供电子部件的设置与连接；连接端口，设置于所述印刷电路板上，用于与外部测试机相连接；电容测试模块，设置在所述印刷电路板上，通过印刷电路板上的布线与所述连接端口相连接；产品测试端口，设置在所述印刷电路板上，与所述电容测试模块相连接，用于连接需要测试的集成电路芯片外引脚。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于嘉盛半导体(苏州)有限公司，未经嘉盛半导体(苏州)有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201120146887.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：变频谐振耐压试验装置
- 下一篇：功率计电路
