[实用新型]可测较高密度之治具结构无效

专利信息
申请号: 201120154488.5 申请日: 2011-05-16
公开(公告)号: CN202102057U 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 林鸿霖 申请(专利权)人: 顺探实业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/067
代理公司: 东莞市中正知识产权事务所 44231 代理人: 鲁慧波
地址: 中国台湾台北县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型涉及一种可测较高密度之治具结构,主要包括:一待测板,该待测板上设有低密度与高密度待测点;一上治具,该上治具一侧设有低密度探针,一侧设有高密度探针;一万用治具,该万用治具上设有复数探针,其下设有导线以连接到电脑中进行测试;一转接治具,该转接治具一侧开设定位孔,一侧上层设有高密度探针,其下设导线以连接低密度探针并与万用治具之探针相结合;籍由在万用治具上置设转接治具之设计,利用转接治具之高密度探针结合上治具之高密度探针,并令低密度探针结合万用治具之探针以达到测试高密度待测板之目的,如此构造即可降低制造万用治具的成本从而达到实用目的。
搜索关键词: 可测较 高密度 结构
【主权项】:
一种可测较高密度之治具结构,其特征在于,包括:一待测板,该待测板上设有低密度与高密度待测点;一上治具,该上治具一侧设有低密度探针,一侧设有高密度探针;一万用治具,该万用治具上设有复数探针,其下设有与电脑连接进行测试的导线;一转接治具,该转接治具一侧开设定位孔,一侧上层设有高密度探针以结合上治具之高密度探针,其下设导线以连接低密度探针,且低密度探针与万用治具之探针相结合。
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