[实用新型]数显芯厚测量卡尺无效
申请号: | 201120158432.7 | 申请日: | 2011-05-18 |
公开(公告)号: | CN202092594U | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 刘明玉;孙鉴荣 | 申请(专利权)人: | 昆山欧思克精密工具有限公司 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06;G01B1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种数显芯厚测量卡尺,包括定尺尺身和动尺框,所述定尺尺身与所述动尺框滑动连接,所述定尺尺身的卡爪上设有定侧头,所述动尺框的卡爪上设有动测头,所述定侧头与所述动测头相对,还包括一定删和一容栅测量系统,所述定栅贴合在所述定尺尺身上,所述容栅测量系统与所述动尺框连接,所述容栅测量系统与所述定栅相配合。该数显芯厚测量卡尺克服了尖头千分尺测量速度慢,与读数值不直观和测量范围小的缺点,增加了测量芯厚的实际读数,降低使用成本故障率低,安全可靠,便于操作。 | ||
搜索关键词: | 数显芯厚 测量 卡尺 | ||
【主权项】:
一种数显芯厚测量卡尺,包括定尺尺身和动尺框,所述定尺尺身与所述动尺框滑动连接,所述定尺尺身的卡爪上设有定侧头,所述动尺框的卡爪上设有动测头,所述定侧头与所述动测头相对,其特征在于:还包括一定删和一容栅测量系统,所述定栅贴合在所述定尺尺身上,所述容栅测量系统与所述动尺框连接,所述容栅测量系统与所述定栅相配合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山欧思克精密工具有限公司,未经昆山欧思克精密工具有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120158432.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种LED显示组件
- 下一篇:一种桌面式半导体微型空调