[实用新型]基于场量检测的漏磁探头无效

专利信息
申请号: 201120160162.3 申请日: 2011-05-19
公开(公告)号: CN202083672U 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 唐莺;潘孟春;高军哲;陈棣湘;罗飞路 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01N27/83 分类号: G01N27/83
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 何为;李宇
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种基于场量检测的漏磁探头,其包括磁轭、激励线圈和漏磁检测线圈,该磁轭包括一个水平梁和两个竖直臂,该两个竖直臂连接在水平梁的两端;该激励线圈采用漆包线绕制在磁轭的水平梁上;该漏磁检测线圈包括三个绕制在立方骨架上的相互正交的检测线圈,分别为Bx向磁场检测线圈、By向磁场检测线圈和Bz向磁场检测线圈,且该漏磁检测线圈安装在磁轭的竖直臂底面所在平面。优选情况下,该漏磁检测线圈安装在磁轭的竖直臂底面所在平面的中心。本实用新型在常规的二维漏磁检测线圈基础上增加了By向磁场检测线圈,从而构成三维漏磁检测线圈,增加了检测过程中的信息量,提高了不同方向缺陷检测识别的准确率。
搜索关键词: 基于 检测 探头
【主权项】:
一种基于场量检测的漏磁探头,包括磁轭、激励线圈和漏磁检测线圈,其特征在于,该磁轭包括一个水平梁和两个竖直臂,该两个竖直臂连接在水平梁的两端;该激励线圈采用漆包线绕制在磁轭的水平梁上;该漏磁检测线圈包括三个绕制在立方骨架上的相互正交的检测线圈,分别为Bx向磁场检测线圈、By向磁场检测线圈和Bz向磁场检测线圈,且该漏磁检测线圈安装在磁轭的竖直臂底面所在平面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科学技术大学,未经中国人民解放军国防科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120160162.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top