[实用新型]一种N式结构检测治具有效

专利信息
申请号: 201120195294.X 申请日: 2011-06-10
公开(公告)号: CN202141442U 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 陈昱成 申请(专利权)人: 宇瀚光电科技(苏州)有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 21500*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型适用于检测器具技术,提供了一种N式结构检测治具,该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座;所述N型框架固定在所述治具底座上,所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上,所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。本实用新型通过采用N型框架、测量仪表、测量仪低杆等结构,消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等缺点和不足,解决了现有L式结构检具的所有问题,可适于最大尺寸范围,并且更具稳定性及操作性。
搜索关键词: 一种 结构 检测
【主权项】:
一种N式结构检测治具,其特征在于,该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座;所述N型框架固定在所述治具底座上,所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上,所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。
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