[实用新型]一种厚膜电子产品老化试验台有效

专利信息
申请号: 201120206420.7 申请日: 2011-06-17
公开(公告)号: CN202166700U 公开(公告)日: 2012-03-14
发明(设计)人: 高文志;夏勇年;徐华 申请(专利权)人: 珠海市华晶微电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 宫爱鹏
地址: 519015 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种厚膜电子产品老化试验台,包括线路板台面、负载电阻台面、老化线路板和数字电压表,所述负载电阻台面平行设于线路板台面的正下方且两台面之间具有间隔,所述负载电阻台面上设有可调的负载电阻;所述线路板台面上设有老化线路板,老化线路板上设有待老化产品插座,每块老化线路板均连接一可调的负载电阻和一数字电压表。本实用新型的优点:设计合理,整体结构简单,使用方便;设置功率电阻阻值,使厚膜电子产品工作在满功率下,以便有缺陷的厚膜电子产品能尽快被剔除出来,从而有效提高检测质量和工作效率。
搜索关键词: 一种 电子产品 老化 试验台
【主权项】:
一种厚膜电子产品老化试验台,其特征在于,该老化试验台包括线路板台面、负载电阻台面、老化线路板和数字电压表,所述负载电阻台面平行设于线路板台面的正下方且两台面之间具有间隔,所述负载电阻台面上设有可调的负载电阻;所述线路板台面上设有老化线路板,老化线路板上设有待老化产品插座,每块老化线路板均连接一可调的负载电阻和一数字电压表。
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