[实用新型]基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置有效
| 申请号： | 201120250191.9 | 申请日： | 2011-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN202189097U | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 刘兰荣;张卫;韩贵胜;王晓燕;范亚娜;石立新;刘涛;王亮 | 申请（专利权）人： | 保定天威集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 唐山顺诚专利事务所 13106 | 代理人： | 于文顺 |
| 地址： | 071051 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，属于电磁测量技术领域。技术方案是包含激励线圈（2）、补偿线圈（3）、功率分析仪（21）、变频电源（20）、被测结构件（1），激励线圈与补偿线圈结构尺寸和匝数以及导线规格完全相同，被测结构件结构尺寸大于激励线圈结构尺寸1.5倍以上。本实用新型的积极效果是：解决了线圈损耗和结构件损耗难以分离的问题，将补偿线圈放置在活动支架上，通过轮组件移动补偿线圈的位置，方便测量过程中补偿线圈位置调整；除被测结构件外，其它构件制作材料均为非铁磁材料，排除了试件之外铁磁材料对测量结果的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 漏磁通 补偿 构件 损耗 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于包含激励线圈（2）、补偿线圈（3）、功率分析仪（21）、变频电源（20）、被测结构件（1），激励线圈与补偿线圈结构尺寸和匝数以及导线规格完全相同，被测结构件结构尺寸大于激励线圈结构尺寸1.5倍以上。
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