[实用新型]一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统有效
申请号: | 201120251093.7 | 申请日: | 2011-07-15 |
公开(公告)号: | CN202158842U | 公开(公告)日: | 2012-03-07 |
发明(设计)人: | 王省哲;关明智;周又和 | 申请(专利权)人: | 兰州大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16;G01B7/16 |
代理公司: | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人: | 刘震 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,包括去除铜基的μm级纯超导丝材,以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。本实用新型所述μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,可以克服现有技术中测量角度准确性差、实验可靠性低与低温下测量误差大等缺陷,以实现测量角度准确性好、实验可靠性高与低温下测量误差小的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 超导 低温 光电 联合 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种 μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,其特征在于,包括去除铜基的μm级纯超导丝材,以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。
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