[实用新型]一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统有效

专利信息
申请号: 201120251093.7 申请日: 2011-07-15
公开(公告)号: CN202158842U 公开(公告)日: 2012-03-07
发明(设计)人: 王省哲;关明智;周又和 申请(专利权)人: 兰州大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01B7/16
代理公司: 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 代理人: 刘震
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 实用新型公开了一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,包括去除铜基的μm级纯超导丝材,以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。本实用新型所述μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,可以克服现有技术中测量角度准确性差、实验可靠性低与低温下测量误差大等缺陷,以实现测量角度准确性好、实验可靠性高与低温下测量误差小的优点。
搜索关键词: 一种 超导 低温 光电 联合 测量 系统
【主权项】:
一种 μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,其特征在于,包括去除铜基的μm级纯超导丝材,以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。
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