[实用新型]一种手动式芯片测试夹具

摘要

本实用新型涉及一种手动式芯片测试夹具。其结构包括了连接器，连接器导向块、连接器导向块紧固螺丝、连接器导向块定位销钉、连接器紧固螺丝，以及垂直方向微调螺杆和测试探针；所述垂直方向微调螺杆调整连接器中测试探针与电子芯片接触点的高度。本实用新型采用从侧边接触芯片引脚的方式，并且与芯片的接触点高度可以调整，即可以根据芯片所需的检测点高度进行相应的调整，避免与引脚脆弱部分接触，损毁芯片。本实用新型方案为手动方案，当芯片安装固定好开始测试时。操作者可以根据已安装的芯片，调整连接器的位置。确保连接器中的探针与芯片的引脚完全接触。

主权项

一种手动式芯片测试夹具，其特征在于，包括连接器（7），连接器导向块（3）、连接器导向块紧固螺丝（1）、连接器导向块定位销钉（4）、连接器紧固螺丝（5），以及垂直方向微调螺杆（2）和测试探针（6）；所述垂直方向微调螺杆（2）调整连接器（7）中测试探针（6）与电子芯片（8）接触点的高度。