[实用新型]一种保护栅源电极与栅漏电极的IGBT功率器件有效

专利信息
申请号: 201120284013.8 申请日: 2011-08-06
公开(公告)号: CN202153518U 公开(公告)日: 2012-02-29
发明(设计)人: 王新 申请(专利权)人: 深圳市稳先微电子有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/739;H01L29/41
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市福田区*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种保护栅源电极与栅漏电极的IGBT功率器件包括IGBT主芯片、P+衬底层、硅片、栅氧化层、多晶硅层、二氧化硅层、PNP三极管P区、PN二极管区,所述P+衬底层设置在硅片下方,该硅片热氧化作为栅氧化层,淀积多晶硅并光刻多晶硅区形成栅极导电层;所述多晶硅上淀积有二氧化硅作为该多晶硅上保护层,光刻淀积的二氧化硅,同时将源极上的淀积二氧化硅腐蚀掉。IGBT主芯片外面边缘还设有PNP三极管P区和PN二极管P区,该PNP三极管P区、PN二极管P区是利用IGBT主芯片中的P+注入形成。本实用新型具有结构简单,制造方便,成本低和产品易保证的诸多优点,具有很强的经济性和实用性。
搜索关键词: 一种 保护 电极 漏电 igbt 功率 器件
【主权项】:
一种保护栅源电极与栅漏电极的IGBT功率器件,包括IGBT主芯片、P+ 衬底层、硅片、栅氧化层、多晶硅层、二氧化硅层、PNP三极管P区、PN二极管区;其特征是,所述P+ 衬底层设置在硅片下方,该硅片热氧化作为栅氧化层,淀积多晶硅并光刻多晶硅区形成栅极导电层;所述多晶硅上淀积有二氧化硅作为该多晶硅上保护层,光刻淀积的二氧化硅,利用胶保护栅极上的二氧化硅,同时将源极上的淀积二氧化硅腐蚀掉(即将源极的导电窗口打开),IGBT主芯片外面边缘还设有PNP三极管P区和PN二极管P区,其中PNP三极管P区、PN二极管P区是利用IGBT主芯片中的P+注入形成。
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