[实用新型]一种晶棒性能连续测试架有效
| 申请号： | 201120288455.X | 申请日： | 2011-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN202153233U | 公开（公告）日： | 2012-02-29 |
| 发明（设计）人： | 刘宝成 | 申请（专利权）人： | 河南恒昌电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 461500 河南省许昌市*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型涉及半导体生产技术领域，涉及半导体晶棒测试装置，具体地说是涉及一种晶棒性能连续测试架。包括两个测试支架，其特征是：所述的两个测试支架分别转轴连接有圆形的转盘，两个转盘上具有对应的卡爪，所述的卡爪至少是两对，卡爪后边有导线连接电脑，所述的转盘上还具有限位凸起，所述的测试架还具有挡着限位凸起的抵挡结构，这样结构的晶棒性能连续测试架具有测试效率更高、不用等待的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 连续 测试 | ||
【主权项】：
一种晶棒性能连续测试架，包括两个测试支架，其特征是：所述的两个测试支架分别转轴连接有圆形的转盘，两个转盘上具有对应的卡爪，所述的卡爪至少是两对，卡爪后边有导线连接电脑。
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