[实用新型]陶瓷制品光洁度激光测量装置有效
| 申请号： | 201120291392.3 | 申请日： | 2011-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN202229741U | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 王文婷 | 申请（专利权）人： | 淄博职业学院 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京中伟智信专利商标代理事务所 11325 | 代理人： | 张岱 |
| 地址： | 255314 山东省淄博*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种陶瓷制品光洁度激光测量装置，提高检测陶瓷制品光洁度的精确度，包括激光器、光学装置以及检测电路，其中；所述激光器为光源发出设备；光学装置调和所述激光器发出的激光光线并使光线照射到待测件上，并接受从所述待测件反射回的光线并使光线输送到所述检测电路；检测电路分析处理反射回的光线并与预设光线标准进行对比和显示。本实用新型采用半导体激光器为光源，并配备单片机处理系统便于携带和操作、无接触、快速测量表面粗糙度，且抗干能力强、精度高适合现场使用。由于散射式激光测量粗糙度固有的特性，其特别适合于专门试件的测试，在陶瓷、汽车、轴承制造行业有着较大的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷制品 光洁度 激光 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种陶瓷制品光洁度激光测量装置，其特征在于，包括激光器、光学装置以及检测电路，其中；激光器，所述激光器为光源发出设备；光学装置，调和所述激光器发出的激光光线并使光线照射到待测件上，并接受从所述待测件反射回的光线并使光线输送到所述检测电路；检测电路，分析处理反射回的光线并与预设光线标准进行对比和显示。
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