[实用新型]光电载荷多光轴空间角度精密标校装置有效
| 申请号： | 201120296445.0 | 申请日： | 2011-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN202372164U | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 郭喜庆;边强;刘瑞敏;崔惠绒;刘伟;秦莹莹;李伟燕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种能够对光轴的空间角度进行高精度测量的光电载荷多光轴空间角度精密标校装置。该标校装置(1)中，高稳定度测量支架(4)、高精度直角棱镜方位角监测装置(7)和高精度二维直线工作台(8)直接安放在高稳定度支撑平台(2)上。带有光学基准镜(6)的方位俯仰微调机构(5)安装在高稳定度测量支架(4)上。高精度直角棱镜方位角监测装置(7)与高精度二维直线工作台(8)安放于一条直线上。高精度自准直数字经纬仪(9)和电子水平仪(10)安装在高精度二维直线工作台(8)上，其中两电子水平仪(10)互相垂直安装。高精度自准直数字经纬仪(9)和电子水平仪(10)与计算机数据采集与处理系统(11)相连。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 载荷 光轴 空间 角度 精密 装置 | ||
【主权项】：
一种光电载荷多光轴空间角度精密标校装置，其特征是：该光电载荷多光轴空间角度精密标校装置包括高稳定度支撑平台、高精度二维直线工作台、方位俯仰调节机构、方位俯仰微调机构、高精度自准直仪、高稳定度测量支架、光学基准镜、高精度自准直数字经纬仪、电子水平仪、高精度直角棱镜方位角监测装置和计算机数据采集与处理系统；高稳定度测量支架、高精度直角棱镜方位角监测装置和高精度二维直线工作台都直接安放在高稳定度支撑平台上；光学基准镜安装在方位俯仰微调机构上，方位俯仰微调机构安装在高稳定度测量支架上；在光轴基准建立过程中，高精度自准直仪安放在方位俯仰调节机构上，方位俯仰调节机构直接安放在高精度二维直线工作台上；在角度测量过程中，高精度自准直数字经纬仪和电子水平仪都安装在高精度二维直线工作台上，通过专用数据线与计算机数据采集与处理系统相连。
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