[实用新型]一种非插拔电路板测试装置有效
申请号: | 201120337366.X | 申请日: | 2011-09-09 |
公开(公告)号: | CN202204913U | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 朱涛;李靖 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 高尚梅 |
地址: | 300192*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型属于电气测量技术领域,具体涉及一种非插拔电路板测试装置。本实用新型的非插拔电路板测试装置包括1#至50#共50个触点,其中13#触点与29#触点内部连通且接地,对上述触点分组进行内部连通,引出若干个开关触点,将开关触点分别别连接至四刀双置开关的公共端或非公共端。本实用新型解决的技术问题是现有技术对电路板触点进行测试时,需要利用测试插头重复插拔,测试效率低,易引入人为误操作。本实用新型的有益效果为测试插头只需与电子开关相连,无需频繁插拔,延长了使用寿命;电子开关自动控制开关触点的状态即可实现不同线路触点的测试,高效准确,避免由于人为因素引入误操作。 | ||
搜索关键词: | 一种 非插拔 电路板 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种非插拔电路板测试装置,包括1#至50#共50个触点,其中13#触点与29#触点内部连通且接地,其特征在于:对上述触点分组进行内部连通,引出若干个开关触点,将开关触点分别别连接至四刀双置开关的公共端或非公共端。
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