[实用新型]基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备有效
| 申请号： | 201120351442.2 | 申请日： | 2011-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN202317867U | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 张克华;程光明;闵力;许永超 | 申请（专利权）人： | 浙江师范大学 |
| 主分类号： | B23Q17/20 | 分类号： | B23Q17/20;B23Q17/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 321004 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型的目的是提供基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，通过数控定位，提高检测精度。为了达到所述效果，本实用新型采用了如下技术方案：基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，包括底座，底座上设有安置台，所述底座后方设有Y轴平移导轨，所述底座上方设有X轴平移导轨，所述X轴平移导轨和Y轴平移导轨上均装有数控滑块，所述数控滑块上装载有精密成像系统。由于采用了所述技术方案，本实用新型基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备上所述X轴平移导轨和Y轴平移导轨上均装有设有数控滑块上装载有精密成像系统，定位精准，立体成像，能够准确测绘出待测工件的精密结构，而且操作非常方便。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 数控加工中心 工件 尺寸 精密 光学 检测 设备 | ||
【主权项】：
基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，包括底座(1)，其特征在于：底座(1)上设有安置台(2)，所述底座(1)后方设有Y轴平移导轨(3)，所述底座(1)上方设有X轴平移导轨(4)，所述X轴平移导轨(4)和Y轴平移导轨(3)上均装有数控滑块(6)，所述数控滑块(6)上装载有精密成像系统(5)。
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