[实用新型]用于继电保护测控装置中CPU插件的测试系统有效

专利信息
申请号: 201120363912.7 申请日: 2011-09-26
公开(公告)号: CN202267716U 公开(公告)日: 2012-06-06
发明(设计)人: 周兆庆;魏建功;王翀 申请(专利权)人: 国电南京自动化股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 210009 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种用于继电保护测控装置中CPU插件的测试系统,包括测试机箱、工控机和高温老化通电车,高温老化通电车内设置有多个测试机箱;测试机箱用于测试并采集连接在该测试机箱内的待测的CPU插件的测试信息;工控机,用于接收并处理所述测试机箱采集到待测的所述CPU插件的测试信息,本实用新型具有成本低、效率高、支持批量化的优点,并可在高温环境下执行老化测试,增加了单次测试CPU插件的容量,可提高CPU插件的测试效率,降低测试人员的技术要求,在扩大产能的同时保持产品质量,在正弦电压信号发生插件输出端设置二阶有源带通滤波器,不仅可以消除高次阶梯波,而且增强了信号的带负载能力。
搜索关键词: 用于 保护 测控 装置 cpu 插件 测试 系统
【主权项】:
用于继电保护测控装置中CPU插件的测试系统,包括测试机箱,其特征在于,还包括:高温老化通电车和工控机,所述高温老化通电车内设置有多个所述的测试机箱;所述测试机箱用于测试并采集连接在该测试机箱内的待测的所述CPU插件的测试信息;所述工控机,用于接收并处理所述测试机箱采集到待测的所述CPU插件的测试信息。
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