[实用新型]一种晶硅电池片检测装置有效
| 申请号： | 201120378033.1 | 申请日： | 2011-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN202259209U | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 吴国强;权微娟;韩玮智;牛新伟;丁建 | 申请（专利权）人： | 浙江正泰太阳能科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司： | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人： | 冯谱 |
| 地址： | 310053 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种晶硅电池片检测装置，该装置包括透明载台、第一光源和第一成像探头，其中：所述透明载台的上平面承载待检测的晶硅电池片；所述第一光源安装在所述透明载台的下平面的下方，该第一光源发出的检测光透过所述透明载台完全照亮所述晶硅电池片的底面，该底面正对所述透明载台的上平面；所述第一成像探头安装在所述透明载台的下平面的下方，该第一成像探头获取所述晶硅电池片的底面的图像。实施本实用新型，可以保证晶硅电池片印刷的合格率，有助于维持产线的高效率生产。相比人工实时检测铝浆漏浆，本实用新型提供的装置其准确性和可靠性更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电池 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种晶硅电池片检测装置，其特征在于，该装置包括透明载台、第一光源和第一成像探头，其中：所述透明载台的上平面承载待检测的晶硅电池片；所述第一光源安装在所述透明载台的下平面的下方，该第一光源发出的检测光透过所述透明载台完全照亮所述晶硅电池片的底面，该底面正对所述透明载台的上平面；所述第一成像探头安装在所述透明载台的下平面的下方，该第一成像探头获取所述晶硅电池片的底面的图像。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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