[实用新型]二极管芯片的双灯测试装置有效
| 申请号： | 201120386841.2 | 申请日： | 2011-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN202256599U | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 汪良恩;裘立强;葛宜威 | 申请（专利权）人： | 扬州杰利半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 225008 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 二极管芯片的双灯测试装置。涉及大批量生产二极管芯片时的产品质量检测装置。提供了一种能简易测量和分辨故障芯片的二极管芯片的双灯测试装置。包括检测用交流电源、检测电路、滤波电容C1、滤波电容C2、测试笔一和检测笔二。本实用新型针对TVS（瞬变电压抑制二极管）等产品，需要P面和N面相配合组装后之芯片，在生产制造时，常出现P/N面不同蚀刻面混料之现象，利用该装置快速区分混料材料。它利用正常二极管的单向导通性，对被测产品进行单面测试。可区分P面蚀刻晶粒和N面蚀刻晶粒解决生产线不同蚀刻面相同晶粒尺寸混料的异常；二是判定O/J晶片扩散时边缘是否存在反型层现象，并在按照晶粒尺寸进行划片后进行分选出电性不良品。 | ||
| 搜索关键词： | 二极管 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
二极管芯片的双灯测试装置，其特征在于，包括检测用交流电源、检测电路、滤波电容C1、滤波电容C2、测试笔一和检测笔二；所述检测电路包括正向电路和反向电路，所述正向电路包括相互依次串接的电阻R2、二极管Z2和发光二极管LED2；反向电路包括相互依次串接的电阻R1、发光二极管LED1和二极管Z1；所述电阻R2、R1并联、再连接所述检测用交流电源的一端和所述滤波电容C1；所述发光二极管LED2的负极和二极管Z1的负极并联、再连接所述测试笔一和所述滤波电容C2；所述检测用交流电源的另一端与所述检测笔二相连；滤波电容C1和滤波电容C2分别接地。
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