[实用新型]一种相序及过零检测电路结构有效
申请号: | 201120408929.X | 申请日: | 2011-10-24 |
公开(公告)号: | CN202383199U | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 伦东 | 申请(专利权)人: | 无锡斯玛特自控工程有限公司 |
主分类号: | G01R25/00 | 分类号: | G01R25/00;G01R19/175 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214112 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种相序及过零检测电路结构,其主要采用2个TLP521-1的光耦和一个2W10的整流桥,加上二极管、电阻、电容组成的电路。通过阻容及电路不平衡之间的相互关系,从而实现相序及过零检测的目的。其优点是:本实用新型结构简单合理,成本低;由于利用三相电路的不对称性,来判断三相电的相序,简单可靠,同时利用光耦的隔离使强弱电分开,更加的安全。通过对三相电波形的分析来判断其过零点的时间,实现过零检测,通过过零检测实现其精确控制导通时间的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 电路 结构 | ||
【主权项】:
相序及过零检测电路结构,其特征是包括:第一电容(C1)一端接U相,第一电容(C1)另一端接整流桥(D1)交流输入的一脚,第一电阻(R1)的一端接V相,第一电阻(R1)另一端接整流桥(D1)交流输入的另一脚,第二电阻(R2)并联在整流桥(D1)的交流输入的两脚之间;整流桥(D1)的直流输出负极接第二电容(C2)的正极和第一光耦(U1)的输入正极,整流桥(D1)的直流输出正极接第二电容(C2)的负极和第一光耦(U1)的输入负极;第一光耦(U1)的输出正端接第三电阻(R3)上拉到电源电压(VCC),第一光耦(U1)的输出负端分别通过第三电容(C3)和第五电阻(R5)接地,同时第一光耦(U1)的输出负端接单片机的I/O口做相序判断;第七电阻(R7)的一端接V相,另一端接二极管(D2)的负极和第二光耦(U2)的输入正极;第八电阻(R8)的一端接W相,另一端接二极管(D2)的正极和第二光耦(U2)的输入负极,第二光耦(U2)的输出正端接第四电阻(R4)上拉到电源电压(VCC),第二光耦(U2)的输出负端分别通过第六电阻(R6)和第四电容(C4)接地,同时第二光耦(U2)的输出负端接单片机的I/O口做过零检测。
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