[实用新型]基于标准尺的大尺寸高精度测量装置有效

专利信息
申请号: 201120450557.7 申请日: 2011-11-15
公开(公告)号: CN202836431U 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 刘红旗;张敬彩;李秀明 申请(专利权)人: 中机生产力促进中心
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100044*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及基于标准尺的大尺寸高精度测量装置,采用两种膨胀系数相差较大的材料制成标准尺,这两标准尺一端固定,另一端可自由膨胀,在标准温度下对它们进行尺寸标定。把两个标准尺安装在测量装置中,由于它们的膨胀系数不同,温度变化时,测量装置中读数头可测量两标准尺膨胀后的尺寸差。根据标准尺的尺寸差值,对测量尺寸进行修正,从而提高了尺寸的测量精度。基于标准尺的大尺寸高精度测量装置,能够在加工现场实现测量,无需测量现场温度,便可对温度变化所引起的尺寸变化进行修正。该检测装置重量轻、装调方便。并且,检测装置的测量范围大,测量精度高。
搜索关键词: 基于 标准 尺寸 高精度 测量 装置
【主权项】:
基于标准尺的大尺寸高精度测量装置,采用两种热膨胀系数相差较大的材料制成两标准尺,两标准尺套装在一起,其中两标准尺的一端固定,另一端可自由膨胀,在标准温度下对两标准尺的长度进行标定,固定测头和固定量杆连接,与两标准尺的固定端可靠接触,测量头与大膨胀系数标准尺膨胀端固定连接,活动测头与测量尺固定连接,其特征是温度变化时测量头可测得两标准尺的尺寸差,依此对测量尺寸进行精确的修正,基于标准尺的标定长度和测量头的小尺寸精密测量,实现大尺寸的高精度测量。
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