[实用新型]绑定电路测试装置有效
| 申请号： | 201120457279.8 | 申请日： | 2011-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN202362424U | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 王龙林 | 申请（专利权）人： | 深圳市证通电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市睿智专利事务所 44209 | 代理人： | 陈鸿荫 |
| 地址： | 518054 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种绑定电路测试装置，包括相互配合的一工装和一测试电路；该测试电路包括一个用于测试的测试用处理器，与该测试用处理器相连的第一测试触发电路和第二测试触发电路，以及一个状态指示电路；其中，该测试用处理器通过TTL电平与待测试的绑定电路进行数据通讯，该第一测试触发电路具有与该测试用处理器相连的第一测试输入控制端和与待测试的绑定电路相连的第一测试输出控制端，该第二测试触发电路具有与该测试用处理器相连的第二测试输入控制端和与待测试的绑定电路相连的第二测试输出控制端，该状态指示电路与待测试的绑定电路相连。本实用新型能够减少测试过程中的人工干预工作，减少人工误操作，从而提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 绑定 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种绑定电路测试装置，包括相互配合的一工装和一测试电路；其特征在于，该测试电路包括一个用于测试的测试用处理器，与该测试用处理器相连的第一测试触发电路和第二测试触发电路，以及一个状态指示电路；其中，该测试用处理器通过TTL电平与待测试的绑定电路进行数据通讯，该第一测试触发电路具有与该测试用处理器相连的第一测试输入控制端和与待测试的绑定电路相连的第一测试输出控制端，该第二测试触发电路具有与该测试用处理器相连的第二测试输入控制端和与待测试的绑定电路相连的第二测试输出控制端，该状态指示电路与待测试的绑定电路相连。
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