[实用新型]电测治具有效

专利信息
申请号: 201120488585.8 申请日: 2011-11-30
公开(公告)号: CN202330639U 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 冀海明 申请(专利权)人: 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 210038 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种电测治具,包括测试板、置于测试板之上的下压板、平行置于下压板上的可运动的上压板,上压板上设置一带推动机构的可推动所述上压板向下运动的盖板;下压板、上压板上包含多个垂直贯通的针孔构成的检测区,多个针孔内分别设置有探针,探针的下端头穿过下压板与测试板上的测试电极碰触;探针的上端头位于上压板的针孔内;仅当上压板向下运动时,探针的上端头才伸出所述上压板的针孔,与由上压板、盖板夹持的待测FPC上的电极碰触。本实用新型的电测治具,将FPC自由端送入电测治具以进行检测,不损伤FPC上的导电电极及电测治具上的检测电极,节省检测时间,提高了检测效率。
搜索关键词: 电测治具
【主权项】:
一种电测治具,其特征是,包括一带有测试电极的测试板、置于所述测试板之上的下压板、平行置于所述下压板上的可运动的上压板,所述上压板上设置一带推动机构的可推动所述上压板向下运动的盖板;所述下压板、上压板上包含多个垂直贯通的针孔构成的检测区,多个所述针孔内分别设置有探针,所述探针的下端头穿过所述下压板与所述测试板上的测试电极碰触;所述探针的上端头可由所述上压板的针孔内伸出;所述上压板向下运动时,所述探针的上端头伸出所述上压板的针孔,与由所述上压板、所述盖板夹持的待测FPC上的电极碰触。
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