[实用新型]手动芯片测试座有效
| 申请号： | 201120497349.2 | 申请日： | 2011-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN202471762U | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 金英杰 | 申请（专利权）人： | 金英杰 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试领域，尤其是手动芯片测试座。包括一底座，所述的底座底部设有电路板，底座上设有一空腔，空腔底部设有与电路板配合的下针模，下针模上设有探针孔；下针模上方设有上针模，上针模上设有探针孔与下针模的探针孔配合，用于共同安装接触待测芯片管脚与电路板测试盘的双头弹簧针，所述的底座连接一可下压的上盖。本实用新型的手动芯片测试座在使用时，通过下压上盖，使得放置于底座浮板上的待测芯片下降，压缩弹簧探针，使得待测芯片的管脚与底座针模上的探针相接触，实现芯片管脚与电路板测试盘之间的良好的电性能导通，实现芯片的手动测试。整个过程人工简单操作即可完成，大幅降低了成本投入，而且检测的精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 手动 芯片 测试 | ||
【主权项】：
一种手动芯片测试座，其特征在于：包括一底座，所述的底座底部设有电路板，底座上设有一空腔，空腔底部设有与电路板相连的下针模，下针模上设有针孔用于安装弹簧探针，下针模上方设有上针模，上针模上设有针孔用于安装弹簧探针；上针模和下针模之间装有双头弹簧探针；所述的底座连接一可下压的上盖。
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