[实用新型]痕量气体吸收池有效
申请号: | 201120508241.9 | 申请日: | 2011-12-08 |
公开(公告)号: | CN202433295U | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 孙岩;田耘 | 申请(专利权)人: | 宇星科技发展(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01N21/03 | 分类号: | G01N21/03 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 李新林 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及气体检测仪器,公开了一种痕量气体吸收池,包括带有至少一透明视窗的池体,所述池体上设置有一气体入口和一气体出口,所述透明视窗设置有一入射光源,所述透明视窗设置有一光谱仪;所述的池体内长方向相对的一侧设置一主反射镜,另一侧设置有第一次反射镜和第二次反射镜;所述入射光源、主反射镜、第一次反射镜、第二次反射镜和光谱仪分别设置在:入射光源射出的光线射向第一次反射镜反射至主反射镜,再反射至第二次反射镜,而后反射至主反射镜再反射至第一次反射镜,最后反射至主反射镜再通过第二次反射镜射入光谱仪的位置。本实用新型具有增加了光程并增加气体在池体内的气体密度的优点。 | ||
搜索关键词: | 痕量 气体 吸收 | ||
【主权项】:
一种痕量气体吸收池,其特征在于:包括带有至少一透明视窗的池体,所述池体上设置有一气体入口和一气体出口,所述透明视窗设置有一入射光源,所述透明视窗设置有一光谱仪;所述的池体内长方向相对的一侧设置一主反射镜,另一侧设置有第一次反射镜和第二次反射镜;所述入射光源、主反射镜、第一次反射镜、第二次反射镜和光谱仪分别设置在:入射光源射出的光线射向第一次反射镜反射至主反射镜,再反射至第二次反射镜,而后反射至主反射镜再反射至第一次反射镜,最后反射至主反射镜再通过第二次反射镜射入光谱仪的位置。
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