[实用新型]痕量气体吸收池有效

专利信息
申请号: 201120508241.9 申请日: 2011-12-08
公开(公告)号: CN202433295U 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 孙岩;田耘 申请(专利权)人: 宇星科技发展(深圳)有限公司
主分类号: G01N21/03 分类号: G01N21/03
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 李新林
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及气体检测仪器,公开了一种痕量气体吸收池,包括带有至少一透明视窗的池体,所述池体上设置有一气体入口和一气体出口,所述透明视窗设置有一入射光源,所述透明视窗设置有一光谱仪;所述的池体内长方向相对的一侧设置一主反射镜,另一侧设置有第一次反射镜和第二次反射镜;所述入射光源、主反射镜、第一次反射镜、第二次反射镜和光谱仪分别设置在:入射光源射出的光线射向第一次反射镜反射至主反射镜,再反射至第二次反射镜,而后反射至主反射镜再反射至第一次反射镜,最后反射至主反射镜再通过第二次反射镜射入光谱仪的位置。本实用新型具有增加了光程并增加气体在池体内的气体密度的优点。
搜索关键词: 痕量 气体 吸收
【主权项】:
一种痕量气体吸收池,其特征在于:包括带有至少一透明视窗的池体,所述池体上设置有一气体入口和一气体出口,所述透明视窗设置有一入射光源,所述透明视窗设置有一光谱仪;所述的池体内长方向相对的一侧设置一主反射镜,另一侧设置有第一次反射镜和第二次反射镜;所述入射光源、主反射镜、第一次反射镜、第二次反射镜和光谱仪分别设置在:入射光源射出的光线射向第一次反射镜反射至主反射镜,再反射至第二次反射镜,而后反射至主反射镜再反射至第一次反射镜,最后反射至主反射镜再通过第二次反射镜射入光谱仪的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宇星科技发展(深圳)有限公司,未经宇星科技发展(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120508241.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top