[实用新型]一种读卡器测试治具有效
申请号: | 201120521950.0 | 申请日: | 2011-12-14 |
公开(公告)号: | CN202563015U | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 张伟 | 申请(专利权)人: | 国民技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 薛祥辉 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种测试治具,涉及到了RFID-SIM卡读卡器的测试,包括,底座;用于固定测试干扰物的测试杆;用于固定被测读卡器的测试平台;用于调节所述测试杆高度的调节装置;调节装置和所述的测试平台固定在底座上,该实用新型能够减少治具对读卡器工作电磁波回波干扰,为读卡器工作电磁波回波性能测试提供了可靠测试环境,同时提高了生产效率及产品良率。 | ||
搜索关键词: | 一种 读卡器 测试 | ||
【主权项】:
一种读卡器测试治具,其特征在于,包括底座;用于固定测试干扰物的测试杆;用于固定被测读卡器的测试平台;用于调节所述测试杆高度的调节装置;所述的调节装置和所述的测试平台固定在所述的底座上。
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