[实用新型]一种共焦显微系统三维扫描装置有效

专利信息
申请号: 201120534175.2 申请日: 2011-12-19
公开(公告)号: CN202372163U 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 杨召雷;董洪波;胡凯 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型揭示了一种共焦显微系统三维扫描装置,包括:横向扫描装置、纵向扫描装置;所述横向扫描装置包括第一高精度位移台、第二高精度位移台,第一高精度位移台、第二高精度位移台互成90°叠加放置,实现横向扫描;所述纵向扫描装置采用压电陶瓷控制器驱动,通过柔性平行导向系统实现运动,以实现高精度扫描。本实用新型提出的共焦显微系统三维扫描装置,纵向扫描采用高性能压电陶瓷,通过柔性平行导向运动,可以实现零摩擦、高分辨率和超高导向精度测量。本实用新型横向扫描采用两个高精度位移台互成90°叠加,结合部分用机械加工件连接,以实现大范围高速度扫描。
搜索关键词: 一种 显微 系统 三维 扫描 装置
【主权项】:
一种共焦显微系统三维扫描装置,其特征在于,所述装置包括:横向扫描装置、纵向扫描装置;所述横向扫描装置包括第一高精度位移台、第二高精度位移台,第一高精度位移台、第二高精度位移台互成90°叠加放置,实现横向扫描;所述纵向扫描装置采用压电陶瓷控制器驱动,以实现高精度扫描。
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