[实用新型]一种集成电路老化筛选试验装置有效
| 申请号： | 201120535695.5 | 申请日： | 2011-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN202404204U | 公开（公告）日： | 2012-08-29 |
| 发明（设计）人： | 孙在利;张亚军 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 武汉金堂专利事务所 42212 | 代理人： | 胡清堂 |
| 地址： | 430035 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种集成电路老化筛选试验装置，包括本体管、对接体和固定件。本体管的俯壁面﹑前﹑后斜侧壁面和底壁面的相邻壁面由边棱连接，各壁面均设置有透气窗口，壁面围城的空间是电路容置部，容置部两端有固定件固定。对接体的大部分套在本体管可调节螺孔的外端并固定。所述集成电路老化筛选试验装置，能有效地保护试验的集成电路，避免划伤或管脚变形，改手工逐片装填为快速整体滑入﹑滑出。整体结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 老化 筛选 试验装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路老化筛选试验装置，包括本体管（1）、对接体（2）和固定件（3），本体管的俯壁面（12）、前、后斜侧壁面（14）和底壁面（16）的各相邻壁面有边棱连接，其特征在于：各壁面均设置有透气窗口，壁面围成的空间是电路容置部（18），容置部两端由固定件（31、32）固定，对接体（2）的大部分套在本体管的可调节螺孔（126、1636）外端并固定。
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