[实用新型]用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具有效
| 申请号： | 201120546720.X | 申请日： | 2011-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN202433472U | 公开（公告）日： | 2012-09-12 |
| 发明（设计）人： | 宁贵杰;彭伏保 | 申请（专利权）人： | 厦门市翔宏科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 厦门市诚得知识产权代理事务所 35209 | 代理人： | 方惠春 |
| 地址： | 361000 福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及触控屏的生产辅助用具。本实用新型的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，具体是：在基台上形成可容置一片电容屏功能片的第一凹陷腔,第一凹陷腔的腔形和腔深与电容屏功能片的厚度和形状相当，基台在对应于电容屏功能片的邦定区的位置还形成一个尺寸略大于该电容屏功能片邦定边长度的第二凹陷腔,第二凹陷腔内固定一缓冲垫,在基台上位于第二凹陷腔一侧还设置一个带有手把和押头的夹具,以便测试时压紧电容屏功能片的邦定区；在邦定区的正面安置测试主板,测试主板的一端连接着FPC,该FPC用固定于上述缓冲垫上,主板的另一端设置有数据接口,通过数据线连接到测试的电脑。本实用新型用于对电容屏功能片的ITO导通率进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电容 功能 ito 导通率 测试 | ||
【主权项】：
用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，其特征在于：在基台(1)上形成可容置一片电容屏功能片的第一凹陷腔(8), 第一凹陷腔(8)的腔形和腔深与电容屏功能片的厚度和形状相当，基台(1)在对应于电容屏功能片的邦定区的位置还形成一个尺寸略大于该电容屏功能片邦定边长度的第二凹陷腔(9), 第二凹陷腔(9)内固定一缓冲垫(2),在基台(1)上位于第二凹陷腔(9)一侧还设置一个带有手把(5)和押头(6)的夹具,以便测试时压紧电容屏功能片的邦定区；在邦定区的正面安置测试主板(4), 测试主板(4)的一端连接着FPC(3),该FPC(3)用固定于上述缓冲垫(2)上, 主板(4)的另一端设置有数据接口,通过数据线连接到测试的电脑。
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