[实用新型]一种用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置有效
| 申请号： | 201120550129.1 | 申请日： | 2011-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN202403678U | 公开（公告）日： | 2012-08-29 |
| 发明（设计）人： | 李方江;李迅鹏;刘志强;吴加权;曾春平;马琨 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 650090 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置，属于测量技术领域，包括反射式光纤位移传感器、待测工件、支撑转子、双踪示波器组成，待测工件安装在支撑转子上，待测工件和支撑转子的侧面一周涂抹高反光材料，光纤位移传感器分别置于待测工件和支撑转子的反光材料涂抹处；本实用新型可以去除支撑转子的偏心误差和圆盘工件与支撑转子之间的安装偏心误差，可以在加工现场对圆盘工件进行单个或者批次检测，可快速的检测出圆盘工件的圆度误差是否在正常范围内，快速识别残次品，同时它结构简单、安装调试方便、成本低廉、操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用光 位移 传感器 测定 工件 误差 装置 | ||
【主权项】：
一种利用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置，其特征在于：包括待测工件（1）、支撑转子（2）、反射式光纤位移传感器Ⅰ（4）、双踪示波器（5）、反射式光纤位移传感器Ⅱ（6），待测工件（1）安装在支撑转子（2）上，待测工件（1）和支撑转子（2）的侧面一周均匀涂抹高反光材料（3），反射式光纤位移传感器Ⅰ（4）和反射式光纤位移传感器Ⅱ（6）分别置于待测工件（1）和支撑转子（2）的反光材料（3）涂抹处，且都与双踪示波器（5）连接。
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