[实用新型]一种用光纤位移传感器测量金属线膨胀系数的装置有效

专利信息
申请号: 201120550146.5 申请日: 2011-12-26
公开(公告)号: CN202404047U 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: 李方江;吴加权;曾春平;李迅鹏;刘志强;马琨 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01N25/16 分类号: G01N25/16;G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种用光纤位移传感器测量金属线膨胀系数的装置,属于测量技术领域;包括待测金属、恒温箱、反射式光纤位移传感器、支架、反射体,待测金属用支架水平置于恒温箱中,其特征在于,待测金属两端分别设有反射体,反射式光纤位移传感器置于反射体外侧。本实用新型可以避免待测金属一端固定或竖直放置时形变量误差,获得准确的结果,同时它结构简单、便于携带、成本低廉、操作方便,具有很好的市场前景。
搜索关键词: 一种 用光 位移 传感器 测量 金属线 膨胀系数 装置
【主权项】:
一种用光纤位移传感器测量金属线膨胀系数的装置,其特征在于:包括恒温箱(1)、待测金属(2)、支架(3)、反射式光纤位移传感器(4)、反射体(5),待测金属(2)利用支架(3)水平放置于恒温箱(1)中,待测金属(2)两端分别设有反射体(5),反射式光纤位移传感器(4)置于反射体(5)外侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆明理工大学,未经昆明理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120550146.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top