[实用新型]半导体分立器件的测试系统有效
| 申请号： | 201120556195.X | 申请日： | 2011-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN202502212U | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 郑俊岭 | 申请（专利权）人： | 佛山市联动科技实业有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 | 代理人： | 李永庆 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市禅城区华远东路13*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体分立器件的测试系统，包括有具有测试通道的质量检测电路板、电源和测试头，其特征在于：所述质量检测电路板设有多块，多块相同的质量检测电路板构成多条测试通道，并通过多路转换器与测试头连接。由于采用多通道的测试结构，便于系统根据不同器件的不同特点进行多种自由配置，并可以实现多通道多Die测试，使测试系统性能更佳、效率最高；每一通道相同的QVI板设计，便于日常使用和维护；开放式架构，系统后续升级简便容易；测试系统采用专用正弦波中频电源对整机各通道隔离供电，可大大提高系统抗干扰能力，保证测量的准确性；另外，本实用新型还具有使用方便、安全可靠、精度高、稳定性好的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 分立 器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体分立器件的测试系统，包括有具有测试通道的质量检测电路板、电源和测试头，其特征在于：所述质量检测电路板设有多块，多块质量检测电路板构成相同的多条测试通道，并通过多路转换器与测试头连接。
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