[实用新型]半导体芯片堆叠封装结构有效

专利信息
申请号: 201120571718.8 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN202434508U 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 刘胜;陈润;陈照辉;刘孝刚;李操 申请(专利权)人: 刘胜
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L23/31
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 李平
地址: 200120 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 半导体芯片堆叠封装结构,包括数个半导体芯片,封装基板、塑封材料,其特征在于按上下次序最底下的半导体芯片A有源表面朝下,通过焊球阵列将半导体芯片A连接到封装基板的电路层上,半导体芯片A下表面充填底部填充料,借助粘合层将半导体芯片B粘合在半导体芯片A背面,半导体芯片C、半导体芯片D以及以上的半导体芯片呈层状堆叠在半导体芯片B上方,通过焊线将半导体芯片B、半导体芯片C、半导体芯片D及以上的半导体芯片上的焊盘与封装基板上电路层相连,堆叠封装结构的封装芯片呈层状堆叠布置。本实用新型的优点是制作工艺简单,满足高封装密度的要求,降低封装成本,同时提高封装的可靠性。
搜索关键词: 半导体 芯片 堆叠 封装 结构
【主权项】:
一种半导体芯片堆叠封装结构,包括数个半导体芯片,封装基板、塑封材料,其特征在于按上下次序最底下的半导体芯片A有源表面朝下,经焊球阵列将半导体芯片A连接到封装基板的电路层上,半导体芯片A下表面充填底部填充料,借助粘合层将半导体芯片B粘合在半导体芯片A背面,半导体芯片C、半导体芯片D以及以上的半导体芯片呈层状堆叠在半导体芯片B上方,经焊线将半导体芯片B、半导体芯片C、半导体芯片D及以上的半导体芯片上的焊盘与封装基板上电路层相连,堆叠封装结构的封装芯片呈层状堆叠布置。
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