[发明专利]挠性的电容式传感器数组有效
| 申请号： | 201180002806.9 | 申请日： | 2011-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN102667398B | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 马绍·巴达耶;葛瑞格·兰德利 | 申请（专利权）人： | 谱瑞科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/16 | 分类号： | G01B7/16 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;郑霞 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于检测施加至一电容式传感器数组的力并且补偿由于力所造成的坐标不正确的方法包含从所述电容式传感器数组接收多个电容测量，其中所述多个电容测量包含一第一电容测量以及一第二电容测量，以及根据一在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的比较来检测在所述电容式传感器数组上的压力。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 传感器 数组 | ||
【主权项】：
一种补偿在挠性的触控感测表面上的假触摸和坐标移位的方法，其包括：在耦合至所述挠性的触控感测表面的一处理装置处，其中所述挠性的触控感测表面覆盖一显示面板并且包含一电容式传感器数组，所述电容式传感器数组还包含在一基板上形成且被一迭加层覆盖的多个传感器组件：从所述电容式传感器数组的所述多个传感器组件接收多个电容测量，其中所述多个电容测量包含至少由所述电容式传感器数组的一第一传感器组件测量的一第一电容测量以及由所述电容式传感器数组的一第二传感器组件测量的一第二电容测量；根据在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的一比较来检测由施加于所述电容式传感器数组上的力引起的所述电容式传感器数组的变形；按照所述变形未被检测到的决定，根据所述多个电容测量来决定一触摸位置；以及按照所述变形被检测到的决定，补偿由与施加于所述挠性的触控感测表面上的力相关联的所述变形所造成的触摸坐标的不正确。
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