[发明专利]用于测序聚合物的受控的隧道间隙设备有效

专利信息
申请号: 201180004174.X 申请日: 2011-01-31
公开(公告)号: CN102687027A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: S.林赛;S.常;J.何;P.张;S.黄 申请(专利权)人: 阿利桑那卅评议会
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 柯珂;杨思捷
地址: 美国阿*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明包括了用于分析聚合物和/或聚合物单元的组合物、设备和方法。所述聚合物可以是同型-或异型聚合物,例如,DNA、RNA、多糖或肽。所述设备包括电极,所述电极形成聚合物可以穿过的隧道缺口。电极用附着于其上的试剂来功能化,所述试剂能够与聚合物单元形成短暂的键。当在试剂和单元之间形成短暂的键时,产生可检测信号,用于分析聚合物。
搜索关键词: 用于 聚合物 受控 隧道 间隙 设备
【主权项】:
一种用于分析聚合物的设备,所述设备包括(a)第一和第二电极,它们形成所述聚合物可以穿过的隧道间隙;和(b)附着到所述第一电极的第一试剂和附着到所述第二电极的第二试剂,其中所述第一和第二试剂各自能够与聚合物的单元形成瞬时的键,其中当瞬时的键形成时产生可检测信号。
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