[发明专利]用于测序聚合物的受控的隧道间隙设备有效
申请号: | 201180004174.X | 申请日: | 2011-01-31 |
公开(公告)号: | CN102687027A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | S.林赛;S.常;J.何;P.张;S.黄 | 申请(专利权)人: | 阿利桑那卅评议会 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯珂;杨思捷 |
地址: | 美国阿*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明包括了用于分析聚合物和/或聚合物单元的组合物、设备和方法。所述聚合物可以是同型-或异型聚合物,例如,DNA、RNA、多糖或肽。所述设备包括电极,所述电极形成聚合物可以穿过的隧道缺口。电极用附着于其上的试剂来功能化,所述试剂能够与聚合物单元形成短暂的键。当在试剂和单元之间形成短暂的键时,产生可检测信号,用于分析聚合物。 | ||
搜索关键词: | 用于 聚合物 受控 隧道 间隙 设备 | ||
【主权项】:
一种用于分析聚合物的设备,所述设备包括(a)第一和第二电极,它们形成所述聚合物可以穿过的隧道间隙;和(b)附着到所述第一电极的第一试剂和附着到所述第二电极的第二试剂,其中所述第一和第二试剂各自能够与聚合物的单元形成瞬时的键,其中当瞬时的键形成时产生可检测信号。
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