[发明专利]高介电性膜无效

专利信息
申请号: 201180004932.8 申请日: 2011-01-11
公开(公告)号: CN102666682A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 立道麻有;高野奈菜子;太田美晴;横谷幸治;小松信之;向井惠吏;高明天 申请(专利权)人: 大金工业株式会社
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;C08K3/20;C08L27/16;H01B3/00;H01G4/18;H01G4/20
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 丁香兰;庞东成
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供高介电性膜,其为含有成膜树脂(A)和无机物颗粒(B)的膜,其中,成膜树脂(A)含有偏二氟乙烯系树脂(a1);相对于成膜树脂(A)100质量份,无机物颗粒(B)的含量为0.01质量份以上且小于10质量份;并且无机物颗粒(B)为选自由下述(B1)、(B2)和(B3)组成的组中的至少一种,(B1)为周期表2族、3族、4族、12族或13族中的1种金属元素的无机氧化物颗粒、或它们的无机氧化物复合颗粒;(B2)为式(1)M1a1Nb1Oc1(式中,M1为2族金属元素;N为4族金属元素;a1为0.9~1.1;b1为0.9~1.1;c1为2.8~3.2;M1和N分别可以为两种以上金属元素)所示的无机复合氧化物颗粒;(B3)为周期表2族、3族、4族、12族或13族金属元素的氧化物与氧化硅的无机复合氧化物颗粒。该膜在维持VdF系树脂的高相对介电常数的同时提高体积电阻率。
搜索关键词: 高介电性膜
【主权项】:
一种高介电性膜,其为含有成膜树脂(A)和无机物颗粒(B)的膜,其中:成膜树脂(A)含有偏二氟乙烯系树脂(a1);相对于成膜树脂(A)100质量份,无机物颗粒(B)的含量为0.01质量份以上且小于10质量份;并且无机物颗粒(B)为选自由下述(B1)、(B2)和(B3)组成的组中的至少一种:(B1)周期表2族、3族、4族、12族或13族中的1种金属元素的无机氧化物颗粒、或它们的无机氧化物复合颗粒;(B2)式(1)所示的无机复合氧化物颗粒:M1a1Nb1Oc1所述式中,M1为2族金属元素;N为4族金属元素;a1为0.9~1.1;b1为0.9~1.1;c1为2.8~3.2;M1和N分别可以为两种以上金属元素;(B3)周期表2族、3族、4族、12族或13族金属元素的氧化物与氧化硅的无机氧化物复合颗粒。
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