[发明专利]气相生长装置、气相生长方法、及半导体元件的制造方法有效
申请号: | 201180004990.0 | 申请日: | 2011-04-19 |
公开(公告)号: | CN102656665A | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
发明(设计)人: | 足立 雄介;坂上 英和 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C23C16/455 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在本气相生长方法中,通过使V族原料气体导入配管(42)的内径(W1)大于III族原料气体导入配管(44)的外径(W2),将III族原料气体导入配管(44)以1对1的方式插入到V族原料气体导入配管(42)的内部,从而可防止III族原料气体配管(44)被冷却机构冷却,抑制金属材料凝固到配管壁面。由此,可提供一种将易凝固的金属材料有效地导入反应炉而不会使其附着于喷淋头或配管的壁面、从而能进行有效掺杂的气相生长装置、气相生长方法及半导体元件的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 相生 装置 方法 半导体 元件 制造 | ||
【主权项】:
一种气相生长装置,该气相生长装置将III族原料气体和V族原料气体经由喷淋式气体提供机构(20)提供到收纳被成膜基板(3)的生长室(1)内,使其在所述生长室(1)内进行混合,以将所述被成膜基板(3)进行成膜,该喷淋式气体提供机构(20)配置有分别进行独立喷射的、具有多个III族原料气体喷射孔(43)的III族原料气体导入配管(44)和具有多个V族原料气体喷射孔(41)的V族原料气体导入配管(42),其特征在于,在所述喷淋式气体提供机构(20)中,层叠配置有分别导入所述V族原料气体和所述III族原料气体且彼此隔离的V族原料气体缓冲区域(23)和III族原料气体缓冲区域(24),所述喷淋式气体提供机构(20)包含与所述生长室(1)相接的喷淋板(21),在所述喷淋式气体提供机构(20)中,在所述喷淋板(21)与所述V族原料气体缓冲区域(23)之间设置有用于对所述喷淋板(21)进行冷却的冷却机构(22),所述V族原料气体导入配管(42)的内径(W1)大于所述III族原料气体导入配管(44)的外径(W2),所述III族原料气体导入配管(44)以1对1的方式位于所述V族原料气体导入配管(42)的内部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180004990.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造