[发明专利]荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法无效

专利信息
申请号: 201180005407.8 申请日: 2011-01-05
公开(公告)号: CN102713574A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 林弘能;中田成幸;星岛一辉;土井恭二 申请(专利权)人: 三井造船株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N15/14;G01N33/483
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 杨颖;张一军
地址: 日本东京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法,荧光检测装置用受光元件接收测量对象物受以规定频率调制的激光照射后发出的荧光,并输出输出电平被调节的荧光信号,信号处理部通过将所输出的荧光信号与所述频率的调制信号混合,生成包括相位和强度信息的荧光数据,分析装置计算出测量对象物发出的荧光的、相对于所述调制信号的第一相位偏差,对于所计算出的第一相位偏差,进行与输出电平的调节条件相应的校正,以计算出第二相位偏差,分析装置进一步利用所计算出的第二相位偏差计算出测量对象物发出的荧光的荧光弛豫时间。
搜索关键词: 荧光 检测 装置 方法 以及 信号 处理
【主权项】:
一种荧光检测装置,对测量对象物受激光照射后发出的荧光的荧光信号进行处理,其特征在于,包括:光源部,以规定频率的调制信号对激光进行强度调制后发射;受光部,包括受光元件,接收测量对象物受所述激光照射后发出的荧光,并输出输出电平被调节的荧光信号,能够调节所述输出电平;第一处理部,通过将所述荧光信号与所述频率的调制信号混合,生成包括相位和强度信息的荧光数据;第二处理部,利用所述荧光数据计算出所述荧光的、相对于所述调制信号的第一相位偏差,对于所计算出的所述第一相位偏差,进行与所述输出电平的调节条件相应的校正,以计算出第二相位偏差,利用所计算出的所述第二相位偏差计算出所述荧光的荧光弛豫时间。
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