[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法无效
| 申请号： | 201180005789.4 | 申请日： | 2011-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN102713575A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 星岛一辉;中田成幸 | 申请（专利权）人： | 三井造船株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人： | 杨颖;张一军 |
| 地址： | 日本国东京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种荧光检测装置和荧光检测方法。荧光检测装置能够提高测量对象物受激光照射时发出的荧光的测量精度。该荧光检测装置对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，包括：激光光源，向测量对象物照射激光；第一受光部，接收测量对象物受激光照射时的散射光；第二受光部，接收测量对象物受激光照射时的荧光；信号处理部，对应第一受光部所接收的所述散射光强度，对第二受光部所接收的所述荧光信号进行加权平均。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种荧光检测装置，对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，其特征在于，包括：激光光源，向所述测量对象物照射激光；第一受光部，接收所述测量对象物受激光照射时的散射光；第二受光部，接收所述测量对象物受激光照射时的荧光；信号处理部，对应第一受光部所接收的所述散射光强度，对第二受光部所接收的所述荧光信号进行加权处理。
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