[发明专利]荧光检测装置以及荧光检测方法无效
申请号: | 201180006934.0 | 申请日: | 2011-01-13 |
公开(公告)号: | CN102713577A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 星岛一辉 | 申请(专利权)人: | 三井造船株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N15/14 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人: | 杨颖;张一军 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种荧光检测装置以及荧光检测方法,所述荧光检测装置能够判断因装置的调整引起的荧光寿命测量精度的降低,该荧光检测装置对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量,其特征在于,包括:激光光源,将进行强度调制的激光照射到测量对象物上;受光部,接收所述测量对象物受激光照射时的荧光;信号处理部,利用受光部接收到的荧光的信号来求荧光寿命;判断部,判断因受光部或信号处理部放大荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比规定值大。 | ||
搜索关键词: | 荧光 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种荧光检测装置,对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量,其特征在于,包括:激光光源,将进行强度调制的激光照射到所述测量对象物上;受光部,接收所述测量对象物受所述激光照射时的荧光;信号处理部,利用所述受光部接收到的所述荧光的信号来求荧光寿命;判断部,其判断因所述受光部或所述信号处理部放大所述荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比规定值大。
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