[发明专利]溴系难燃剂判定方法、溴系难燃剂判定装置、再利用方法及再利用装置有效
| 申请号： | 201180008288.1 | 申请日： | 2011-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN102741679A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 间濑健一郎;太田祯章;宫坂将稔 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;G01N21/27 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘文海 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种溴系难燃剂判定方法，其对由树脂构成的被判定物照射光，接收来自被照射了所述光的所述被判定物的反射光，基于所述反射光算出所述被判定物的吸收光谱，基于所述吸收光谱之中的1.42μm以上1.44μm以下的波带、1.45μm以上1.47μm以下的波带、1.66μm以上1.68μm以下的波带、1.72μm以上1.74μm以下的波带、1.92μm以上1.94μm以下的波带、2.11μm以上2.12μm以下的波带、2.17μm以上2.20μm以下的波带、2.31μm以上2.34μm以下的波带之中至少一个波带的吸收光谱，判定所述被判定物是否含有溴系难燃剂。 | ||
| 搜索关键词： | 溴系难燃剂 判定 方法 装置 再利用 | ||
【主权项】：
一种溴系难燃剂判定方法，对由树脂构成的被判定物照射光，接收来自被照射了所述光的所述被判定物的反射光，基于所述反射光算出所述被判定物的吸收光谱，基于所述吸收光谱之中的1.42μm以上1.44μm以下的波带、1.45μm以上1.47μm以下的波带、1.66μm以上1.68μm以下的波带、1.72μm以上1.74μm以下的波带、1.92μm以上1.94μm以下的波带、2.11μm以上2.12μm以下的波带、2.17μm以上2.20μm以下的波带、2.31μm以上2.34μm以下的波带之中至少一个波带的吸收光谱，判定所述被判定物是否含有溴系难燃剂。
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