[发明专利]非接触供电装置和非接触充电系统无效

专利信息
申请号: 201180010228.3 申请日: 2011-03-07
公开(公告)号: CN102763306A 公开(公告)日: 2012-10-31
发明(设计)人: 松元宇宙;井坂笃;铃木一敬;加田恭平;金久保圭秀;长竹洋平;太田和代 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H02J17/00 分类号: H02J17/00;H02J7/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在充电状态下,初级侧控制器(12)保持与输入电流测量单元(11)在先前的检测周期内测量得到的输入电流相对应的基准电流值。初级侧控制器(12)将所保持的基准电流值与预先确定的电流值相加,并生成第一阈值。在输入电流测量单元(11)在最新的检测周期内测量得到的输入电流等于或大于第一阈值的情况下,判断为在初级线圈(L1)的附近存在金属异物。
搜索关键词: 接触 供电 装置 充电 系统
【主权项】:
一种非接触供电装置,用于以非接触方式从初级线圈向次级线圈供给电力,所述非接触供电装置包括:所述初级线圈,其中向所述初级线圈供给交流电流以产生交变磁通;输入电流测量单元,用于在所述初级线圈所产生的交变磁通与所述次级线圈相交的充电状态下,测量所述初级线圈的输入电流的电流值;以及判断单元,用于在所述输入电流测量单元在最新的检测周期内测量得到的最新的输入电流大于或等于通过将预先确定的电流值与基准电流值相加所获得的阈值的情况下,判断为检测到金属异物,其中所述基准电流值对应于所述输入电流测量单元在先前的检测周期内测量得到的输入电流的电流值。
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