[发明专利]光学分析装置、光学分析方法和用于光学分析的计算机程序有效

专利信息
申请号: 201180011644.5 申请日: 2011-02-18
公开(公告)号: CN102782480A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 山口光城;近藤圣二;田边哲也;堀邦夫 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N15/14;G01N21/78
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种光学分析技术,其能够对以低的浓度或数密度包含于样品溶液中的被观测粒子的状态或特性进行检测。本发明的光学分析技术使用诸如共聚焦显微镜的或多光子显微镜的光学系统等能够对来自溶液中的微小区域的光进行检测的光学系统,以在使微小区域的位置在样品溶液中移动的同时(在利用微小区域扫描样品溶液的内部的同时)对来自被观测发光粒子的光进行检测,由此对横穿微小区域的内部的发光粒子单个地进行检测,以使得能够对发光粒子计数或能够获取关于发光粒子的浓度或数密度的信息。
搜索关键词: 光学 分析 装置 方法 用于 计算机 程序
【主权项】:
一种光学分析装置,其通过使用共聚焦显微镜的或多光子显微镜的光学系统对来自发光粒子的光进行检测,所述发光粒子分散在样品溶液中且在所述样品溶液中随机地移动,其特征在于,所述光学分析装置包括:光检测区域移动部,其通过改变所述光学系统的光路来使所述光学系统的光检测区域的位置在所述样品溶液中移动;光检测部,其对来自所述光检测区域的光进行检测;和信号处理部,其在由所述光检测部在所述光检测区域的位置在所述样品溶液中移动的过程中检测到的光中单个地检测来自每个发光粒子的光信号。
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