[发明专利]半导体晶体管有效

专利信息
申请号: 201180011856.3 申请日: 2011-03-02
公开(公告)号: CN102792449A 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 神林宏;上野胜典;野村刚彦;佐藤义浩;寺本章伸;大见忠弘 申请(专利权)人: 先进动力设备技术研究协会;国立大学法人东北大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/786;H01L21/316
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴秋明
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的半导体晶体管具备:由GaN系的半导体构成的活性层、以及形成于活性层上的栅极绝缘膜。栅极绝缘膜具有:形成于活性层上且包含从由Al2O3、HfO2、ZrO2、La2O3、以及Y2O3构成的群中选出的1种以上的化合物在内的第1绝缘膜、以及形成于第1绝缘膜上且由SiO2构成的第2绝缘膜。
搜索关键词: 半导体 晶体管
【主权项】:
一种半导体晶体管,具备:活性层,其由GaN系的半导体构成;和栅极绝缘膜,其具有包含从由标准生成焓的绝对值比228kJ/mol大的绝缘膜构成的群中选出的1种以上的化合物在内的第1绝缘膜、以及形成于所述第1绝缘膜上且由SiO2构成的第2绝缘膜。
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