[发明专利]时域太赫波测量装置中校准时间轴的方法有效
| 申请号： | 201180013345.5 | 申请日： | 2011-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN102792136A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 井辻健明 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42;G01N21/35 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 罗银燕 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供能够改善获得的频谱信息的定量性的太赫波测量装置和测量方法。在使用太赫波测量装置的测量方法中，太赫波测量装置测量与已获知校准谱形状的校准样品有关的太赫波的时间波形，并通过变换时间波形来获得测量谱。比较校准谱和测量谱，并基于比较结果来调整形成时间波形的测量数据的时间间隔，以便校准太赫波测量装置。 | ||
| 搜索关键词： | 时域 太赫波 测量 装置 校准 时间 方法 | ||
【主权项】：
一种使用太赫波测量装置的测量方法，所述太赫波测量装置通过使用时域波谱法测量太赫波的时间波形作为测量数据，所述测量数据是通过包含强度数据流以及强度数据流的元素之间的时间间隔而形成的，所述测量方法包括以下的步骤：通过使用太赫波测量装置，测量与已获知校准谱形状的校准样品有关的太赫波的时间波形；通过变换时间波形获得测量谱；比较校准谱和测量谱；以及通过基于比较结果调整形成时间波形的测量数据的时间间隔，校准太赫波测量装置。
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