[发明专利]荧光计的校准方法有效

专利信息
申请号: 201180014856.9 申请日: 2011-03-29
公开(公告)号: CN102803933A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: E·托克图夫;C·J·欧文;S·K·特里吉斯泰德;A·菲利普晨柯 申请(专利权)人: 埃科莱布美国股份有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 叶勇
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 为了处理影响荧光测量的水样品的一种或更多种光学性能,一些实施例提供用于校准荧光计的方法。在一些情况下,用来自特定的现场地点的样品水制备一种或更多种校准溶液。从水样品和一种或更多种校准溶液进行荧光测量,并且,基于测量确定校准参数。在一些情况下,通过向样品水加入示踪物以包含较高浓度的荧光示踪剂制备校准溶液,并且,进行测量以表征校准斜率系数。在一些情况下,通过添加酸制备校准溶液,并且进行测量以表征样品中的背景荧光。
搜索关键词: 荧光 校准 方法
【主权项】:
1.一种用于校准荧光计的方法,包括以下的步骤:a)提供被配置为从来自工业水系统的水的样品中的荧光标记测量荧光信号并从荧光信号确定水样品中的水处理产品的浓度的荧光计,其中,水处理产品的标称浓度C0与荧光标记的标称浓度Cf对应;b)从工业水系统取回水样品;c)用荧光计从水样品测量第一荧光信号S1;d)制备第一校准溶液,包括以下的步骤:i)制备包含约P×C0的浓度的水处理产品和约P×Cf的浓度的荧光标记的示踪溶液;和ii)向约N份的水样品添加约1份的示踪溶液;e)用荧光计从第一校准溶液测量第二荧光信号S2;f)计算斜率系数Km,该斜率系数Km约等于g)从零水样品的样品测量第三荧光信号S3;h)将零位偏移Z0设为等于S3;和i)用斜率系数和零位偏移校准荧光计。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于埃科莱布美国股份有限公司,未经埃科莱布美国股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180014856.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top